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    산업용 현미경

    [ ICFPD검사현미경 ] L200N/L200ND

    페이지 정보

    본문

    LSI Inspection Microscope L200N/L200ND


    - 8"Wafer/Mask 검사용 현미경

    - 스테이지이송거리: 205mmx205mm

    - 관찰모드: 명시야,암시야,편광,DIC,형광

    - 배율: 10X~1500X(배율전환장치:자동)

    - 소프트웨어및 카메라장착 가능

     - L200N(반사전용) L200ND(투과 반사 겸용)