산업현미경                                           HOME>제품소개>산업현미경

 

Industrial Microscope LV150/LV100D

Nikon CFI60 무한광학계 렌즈 사용하여 선명한 이미지 구현 6" Wafer 검사가 가능한 Compact Design 외부 12V 50W의 할로겐 광원 명시야, 암시야, 간이편광, 미분간섭, 각사형광등의 관찰모드가능

IC Inspection Microscopes L200/L200D

CFI60 무한광학 System Wafer 검사 200mm 외부 진동에 강한 구조

Automated IC Inspection Microscopes L200A

CFI60 무한광학 System 자동 검사 System Wafer 검사 200mm 외부 진동에 강한 구조

FPD/LSI Inspection Microscopes L300/L300D

CFI60 무한광학 System 17 inch FPD/LSI 검사용 현미경 Wafer 검사 300mm 간단한 조작으로 DIC 관찰용이

 

산업현미경은 wafer, PCB, LCD, CONNECTOR 등의 다양한 분야에서 사용됩니다.

 

경기도 안양시 동안구 관양동 1379 TEL.031-384-1551 FAX.031-384-1556

Copyright 2007 ⓒ SHINWOO OPTICS. All rights reserved. Contact sales@iscope.co.kr